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在精密光学、先进制造与前沿科研领域,对短波红外(SWIR)及扩展短波红外(eSWIR)激光光束的精准表征,一直是追求极致性能的关键挑战。传统测量手段常受限于波长范围、动态范围与灵敏度,难以捕捉光束的全部细节。
美国DataRay公司推出的 WinCamD-QD系列光束质量分析仪,以其革命性的胶体量子点传感器技术,为您提供从可见光到2000 nm的全谱段、高精度光束分析解决方案,让不可见的光束特性清晰呈现。

核心技术突破:量子点传感器
WinCamD-QD的核心在于其先进的胶体量子点传感器,它打破了传统硅基或InGaAs传感器的性能边界:
超宽光谱响应:覆盖350-2000 nm的连续波段,一台设备即可应对从紫外可见到短波红外的多种激光源,包括主流的1550 nm通信波段及更长的eSWIR波段。
卓越成像质量:凭借15μm像素尺寸、全局快门以及超过2100:1的信噪比,能够以极高精度捕获连续光和脉冲激光的瞬时二维光强分布,满足ISO 11146标准的光束测量要求。
高灵敏度与动态范围:14位ADC与高达66dB的电子动态范围,确保从微弱信号到高功率光束都能获得无失真的剖面数据。
全面产品型号,匹配多样需求
我们提供不同分辨率与测量视场的型号,以适应从精密光斑分析到大范围光束表征的各种应用场景:

WinCamD-QD系列量子点相机量子效率曲线:

强大软件与集成能力
WinCamD-QD的强大,不仅在于硬件:
全功能免费软件:配备功能全面、高度可定制的DataRay专用软件,无许可费用、无限安装、免费更新。支持数据记录、外部程序接口对接。
自动化测量:可轻松集成M2DU电动平移台,实现完全自动化的M²(光束质量因子)测量,一键完成光束传播分析。
高功率解决方案:提供丰富的采样、吸收和反射式衰减选项,确保即使面对高能激光,也能安全、准确地进行剖面分析。
广泛的应用领域
WinCamD-QD是以下应用的理想工具:
1550 nm及其他SWIR激光器的光束质量评估与现场服务
光学组件组装与仪器系统对准
通信光纤的光束特性表征
光束漂移记录与长期监测
高发散度激光二极管的分析
配合平移台进行完整的M²测量
附:光束轮廓测量仪选型指南
光束轮廓测量是评估激光性能的核心。无论您的激光用于手术、通信、测绘还是基础研究,了解其光束特性都至关重要。
选型前需要明确的五个关键问题
考虑维度 | 核心问题 | 选型影响与说明 |
波长 | 需要宽波长范围还是特定光谱? | 决定探测器类型(如硅基CMOS、InGaAs、量子点、微测辐射热计)。 |
光斑直径 | 光束是微米级还是毫米级? | 决定选择相机式(适合较大光斑)还是扫描狭缝式(适合极小光斑)。 |
功率/能量 | 功率/能量等级是 µW/µJ、mW/mJ 还是更高?是否需要衰减? | 高功率/能量激光必须配备安全的衰减或采样装置,以防止损坏探测器。 |
精度 | 需要多高的测量精度? | 扫描狭缝式通常提供亚微米级分辨率,相机式则提供直观的二维光斑图像。 |
工作模式 | 是连续光(CW)还是脉冲光?脉冲重复频率(PRR)是多少? | 需选择支持相应模式的探测器(如带全局快门的相机适用于捕捉单脉冲)。 |
确定您的测量需求
请明确您需要测量以下哪些参数,这将进一步缩小选型范围:
光束直径(一个或多个位置)
光束XY位置及漂移
光束XYZ焦点位置
光束发散角与指向稳定性
光束形状(高斯、平顶、线形等)
光束质量(如M²传播因子、均匀性)
两大技术路线:相机式 vs. 扫描狭缝式
根据上述答案,您可以在两种主流技术中进行选择:



典型测量功能展示
现代光束轮廓仪软件通常提供强大的分析功能,例如:
M²扫描:自动测量光束质量因子。
光束漂移追踪:长时间记录光束位置稳定性。
能量密度分析:显示光束的强度(能量)分布。
对准辅助:提供实时视觉反馈,便于光学系统对准。
带状图记录:连续记录关键参数(如直径、位置)随时间的变化。
刀口法模式:一种高精度的传统直径测量方法。
如何开始
梳理需求:对照前文的五个关键问题和测量参数列表,明确您的具体条件。
初选技术路线:根据光斑尺寸、是否需要成像等,判断是相机式还是扫描狭缝式更合适。
查阅详细资料:访问DataRay官网或联系中国区代理商:北京海科思锐光电仪器有限公司,获取您感兴趣的产品系列的详细选型指南和数据手册,以确认其波长范围、分辨率、接口等参数完全符合您的要求。
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