LED 指示灯

可以直观地看到光谱仪的工作状态，方便实验搭建和系统诊断。

教学和实验室使用。OEM 系统开发，检修。

热稳定性

在温度差异大的环境下，数据更稳定，重复性更好。

LED 分光、工业过程监测、室外测量。

提高一致性

自动化的生产工艺使得多台仪器间的数据一致性更高，可提高实验的再现性和OEM 集成设备的一致性。

教学和实验室使用，
分析仪器OEM 集成。

配置自由

根据具体应用，配置最合适的光谱仪。可调整的参数包括：波长范围、分辨率、灵敏度、滤光片等。

激光检测，弱荧光检测，反射测量，辐照度测量，特定波段吸光度测量。

小巧灵活

快速启用，便于携带，可以将仪器带到样品做原位测量。

户外遥感测量，如：空气、水质的监测和太阳辐射测量。集成到生产线上原位监测生产工艺。

便于系统集成

外形小巧，与目前最受欢迎的USB 系列尺寸一致。同时有MicroUSB、RS-232、I2C 和SPI 接口是做系统集成时的理想模块。

实验室研究人员、开发者、OEM 厂商、实验室软件研发或其他平台的设计人员。搭建实验室测试系统，系统集成，与LabView 和其他设计平台共用。

光学分辨率

可根据配置调整

信噪比

250:1 (满信号)

300:1  (满信号)

暗噪声

50 RMS counts

动态范围

1300:1（单次采集数据）, 8.5 x 10^7（系统）

积分时间

1 ms – 65 s

3.8 ms  – 10 s

杂散光

<0.05% at 600 nm; <0.10% at  435 nm

线性校准相关系数

>99%

电学参数

A/D转换

16 bit

功耗

250 mA @ 5 VDC

输入/输出

8位可编程GPIO

触发模式

4 种模式

闪控功能

有

门延迟特性

有

通讯/连接

USB, 高密度 40 针 JAE DD4 连接

探测器

检测器

索尼ILX511B线阵硅基检测器

东芝TCD1304AP线阵硅基检测器

检测器范围

190-1100 nm

190-1100 nm

像素点

2048

3648

物理参数

尺寸

88.9 mm x 63.5 mm x 31.9 mm

重量

265 g

物理参数

尺寸：（长 x 宽 x 高）毫米和英寸

148.6 x 104.8 x 45.1毫米（5.9 x 4.1 x 1.8英寸）

重量：千克和磅

0.57千克（1.26磅）

探测器

类型：

Toshiba TCD1304AP

范围：

190至1100纳米

分光部分

波长范围：

200至1100纳米

积分时间：

4毫秒到20秒（连续）；10毫秒到4毫秒（快门）

动态范围：

2 x 10-9（系统）；单次采集2000:1

信噪比：             

300:1（全信号）

光栅：

HC-1，300行/纳米光栅

狭缝：

5 µm wide

光学分辨率：

0.75 nm FWHM

杂散光：

600纳米时小于0.05%；435纳米时小于0.10%

板载缓存：

无

光纤连接器：

SMA 905至单根光纤（0.22 NA）

电子

耗电量：

450毫安，5伏直流

频闪功能：

2个可编程的选通信号（单个/连续）

接口：

USB 2.0，480Mbps；双线RS-232；I2C双线串行总线

温度：

储存温度-30°C至+70°C，运行温度-10°C至50°C

湿度：

0%-90%（无冷凝）

大小：

149 x 109.3 x 50.4 mm

重量：

0.96 kg

检测器

类型：

薄型背照式，2D

选件：

Hamamatsu S10420（紫外-可见光应用的最佳选件）

Hamamatsu S11510 （可见-近红外光应用的最佳选件）

量子效率：

75% peak @ 600 nm  (S10420)

85% peak @ 700 nm (S11510)

光学

光谱范围（检测器响应）：

~165-1100 nm (S10420)（具体波长范围，需依据不同光栅配置）

~400-1180 nm (S11510)（具体波长范围，需依据不同光栅配置）

光学分辨率(FWHM)：

取决于光栅刻线密度和狭缝大小（提高多种选择）

全信号信噪比：

~450:1

动态范围：

15000:1 (typical)

积分时间：

7.2 ms -5秒

光纤连接器：

SMA 905至数值孔径0.22的单根光纤

波长范围

可在185-1100nm范围内配置

可更换狭缝

光学分辨率

0.14-7.7nm(FWHM)，取决于具体配置

系统信噪比

1000：1

A/D分辨率

18bit

动态范围

85000（典型）

杂散光

<0.08% at 600nm;0.4% at 435nm

缓冲区

可容纳15000张谱图

TE制冷

最低可致冷至比室温低40摄氏度。使用温度范围-40度至50度。

物理参数

尺寸：

89.1 毫米 x 63.3 毫米 x 34.4 毫米

重量：

190 g

探测器

探测器：

Sony ILX511B（2048像元硅基CCD线阵）

检测器范围：

200-1100纳米

像素：

2048像素

像素尺寸：

14 微米 x 200 微米

像素阱深：

约62,500个电子

分光部分

光学分辨率：

~0.1-10.0 nm FWHM（取决于配置）

信噪比：

250:1（全信号）

A/D 转换：

16 bit

暗噪声：

50 RMS counts

动态范围：

8.5 x 10^7（系统）；1300:1（单次采集）

积分时间：

1毫秒 – 65秒

杂散光：

600纳米时小于0.05%；435纳米时小于0.10%

线性校准

>99%

ELECTRONICS

耗电量：

30毫安，5伏直流

输入/输出

板载数字用户可编程的GPIO

触发模式：

4种模式

频闪功能：

有

门延迟特性：

有

连接器：

22pin连接器

物理参数

尺寸：

182mm x 110mm x 47mm

重量：

1.18kg（2.6 lb.）

探测器

探测器：

Hamamatsu InGaAs光电二极管阵列探测器
（256元素和512元素阵列）

检测器范围：

~800-2500nm

像素：

512型：512
256型：256

像素尺寸：

512，512-1.9型：25µm x 500µm
512-2.2，512-2.5型：25µm x 250µm
256型：50µm x 500µm

光学

光学分辨率：

512-1.7:~3.1nm w/25µm狭缝
512-1.9:~3.1nm w/25µm狭缝
512-2.2:~5nm w/25µm狭缝
512-2.5:~6.3nm w/25µm狭缝
256-2.1:~7.6nm w/25µm狭缝
256-2.5:~9.5nm w/25µm狭缝

信噪比：

10000:1（全信号）

A/D 转换：

16 bit

暗噪声：

6–24Rmscounts取决于型号和积分时间

动态范围：

7500–15000:1单次采集取决于型号

积分时间：

1ms– 120秒

线性校准：

512, 512-1.9, 512-2.2, 256-2.1: >99.8%;
512-2.5, 256-2.5: >99.6%

电子

耗电量：

250 mA @ 5 VDC

输入/输出

板载可编程的GPIO

触发模式：

4种模式

频闪功能：

有

门延迟特性：

是

连接器：

30-pin连接器：